Analyzátor veľkosti častíc Analýza častíc

Beckman Coulter LS 13 320 SGL

Analizátor veľkosti častíc s modulom pre suchý prášok

Rýchle a reprodukovateľné výsledky pri analýze častíc, laserovej difrakcii a počítaní častíc

Model LS 13 320 od spoločnosti Beckman Coulter umožňuje určenie veľkosti častíc a distribúcie veľkosti častíc vo vzorke pomocou rozptylu svetla. Pri väčších časticiach využíva Fraunhoferovu difrakciu (podrobnosti viď informačný list pri HELOS/KR). Vďaka technológii Polarization Intensity Differential Scattering (PIDS) od Beckman Coulter dokáže zariadenie analyzovať aj častice, ktoré sú podstatne menšie ako vlnová dĺžka bežného svetla.

Pri PIDS-analýze je vzorka ožarovaná polarizovaným svetlom. Ak je častica výrazne menšia ako vlnová dĺžka aplikovaného svetla, elektróny častice sú excitované oscilujúcim elektrickým poľom svetelného lúča. Elektróny oscilujú kolmo na smer lúča; vzniká oscilujúci dipólový moment. Tento dipólový moment spôsobuje vyžarovanie svetla do všetkých smerov okrem smeru excitujúceho svetla. V závislosti od toho, či je excitačné svetlo polarizované vertikálne alebo horizontálne, je nameraná intenzita signálu vzorky Iv, prípadne Ih, pri danom uhle odlišná. Tieto hodnoty závisia výrazne od pomeru veľkosti častice k vlnovej dĺžke. Preto sa pri PIDS-meraní vzorka meria pri troch rôznych vlnových dĺžkach, každá raz s vertikálnou a raz s horizontálnou polarizáciou. Algoritmus následne vypočíta distribúciu veľkosti častíc z nameraných dát.

Systém pre suchý prášok (Tornado modul)
Modul systému pre suchý prášok poskytuje spoľahlivé výsledky v rozsahu 400 nm až 3500 µm pre všetky typy homogénnych a heterogénnych vzoriek, ktoré je možné dispergovať nasucho.

Analytický rozsah: 400 nm až 3500 µm
– Meria celú vzorku podľa ISO 13 320
– Programovateľné nastavenie zatienenia pre optimalizáciu podávania vzorky
– Používateľsky nastaviteľný vákuový tlak pre maximálnu kontrolu disperzie

Prednosti LS 13 320 analyzátora veľkosti častíc
Vynikajúca reprodukovateľnosť údajov
Reprodukova­teľnosť patrí medzi najdôležitejšie faktory pri analýze veľkosti častíc laserovou difrakciou. Prísnejšie špecifikácie produktov umožňujú výrobu kvalitnejších sypkých a práškových materiálov.

Meraný parameter: Veľkosť častíc, distribúcia veľkosti častíc

Meracia metóda: svetelná difrakcia, PIDS-metóda

Merací rozsah: 0,017 μm až 2000 μm
Crsdswv Sicopfx Agweh

Použitie: Meranie veľkosti častíc

Materiály: Emulzie ako telové mlieka a krémy, disperzie ako farby a PCD

Softvérová verzia 5.01

Voltáž: 100-220/240 V

vrátane ovládača vákuovej pumpy

Viac tovaru - nový aj použitý - nájdete v našom e-shope!
Medzinárodné prepravné náklady na vyžiadanie!

Inzercia bola automaticky preložená a vyskytli sa nejaké chyby prekladu.