Bruker Microflex kúpiť použité (4)

Stav: použitý, Tento inzerát je na Bruker microflex hmotnostný spektrometer Jednotka je v plne funkčnom stave a pripravená na okamžité použitie. Bruker Microflex je Matrixom-asistovaný laserovou desorpciou/ionizáciou a analýzou času preletu hmotnostný spektrometer (MALDI-TOF MS), ktorý sa primárne používa na rýchlu identifikáciu mikroorganizmov, biomolekúl (ako sú proteíny a peptidy) a polymérov. Je súčasťou série MALDI Biotyper od spoločnosti Bruker. Kľúčové komponenty: - Laserový zdroj: Dusíkový alebo polovodičový laser (bežne 337 nm UV) - Ionizačný zdroj: Vakuová komora s MALDI cieľovou doskou - Letová trubica: Meria čas preletu iónov - Detektor: Premieňa časy príletu iónov na hmotnostné spektrum - MALDI cieľová doska: Kovová platňa na nanášanie vzoriek zmiešaných s matricou Zjednodušený princíp činnosti: 1. Príprava vzorky: Analyzovaná látka sa zmieša s MALDI matricou (napr. α-cyano-4-hydroxyškoricová kyselina). 2. Laserová ionizácia: Laser zasiahne matricu, ktorá ionizuje vzorku. 3. Urýchlenie iónov: Ióny sú urýchlené do TOF analyzátora. 4. Detekcia: Meria sa čas preletu; menšie ióny dorazia k detektoru skôr. 5. Spektrum: Zaznamenáva sa pomer hmotnosť/náboj (m/z) vzhľadom na intenzitu. Technické špecifikácie (orientačné): Hjdpoxhdxqefx Afzsnl - Rozmery: Stolné vyhotovenie (približne 80 cm šírka) - Hmotnosť: cca 100–120 kg (v závislosti od modelu/verzie) - Napájanie: Štandardná laboratórna elektrická prípojka - Prostredie: Vyžaduje čisté prostredie so stabilnou teplotou a vlhkosťou

Stav: použitý, Demontované z funkčného zariadenia. Prezrite si aj naše ďalšie inzeráty. Hnjdswxax Depfx Afzel

Stav: použitý, Bruker Typ: Tensor 27 IR spektrometer Plná flexibilita vzorků. Díky vylepšenému QuickLockTM mechanismu a uzamykacímu tlačítku na přední straně lze rychle a především bezpečně instalovat i objemné příslušenství. Hnjdpevwcikjfx Afzol Navíc lze systém INVENIO vybavit třemi softwarově řízenými paprskovými výstupy pro širokou škálu externích modulů. FPA mikro- a makro-zobrazování Variabilní externí vzorkovací komora (vlevo i vpravo) pro individuální experimenty Optické vlákno pro připojení k vláknovým sondám pro kapaliny a pevné látky Integrující koule Automatický vzorkovač pro kapaliny Vysoce průtočný analytický modul HTS-XT Reflexní jednotka pro rozhraní vzduch-voda A mnoho dalšího! Stav: použité Dodávané příslušenství: (viz obrázek) (Technické údaje se mohou změnit, předchozí prodej a chyby vyhrazeny!) Rádi zodpovíme další dotazy telefonicky.

Stav: veľmi dobrý (použitý), Type: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Scanning Electron Microscope (PC-SEM) Modern, high-resolution digital scanning electron microscope with newly developed electron optics and intuitive graphical user interface (GUI) running on Microsoft Windows XP Professional. Instrument features include: - Magnification range: 5x - 300,000x - Acceleration voltage: 0.3 - 30 kV - Tungsten filament cathode (LaB6 cathode optional) - Large fully motorised specimen stage with eccentric tilt, including: - Graphical navigation on the specimen holder - Simple specimen navigation via Click-Center-Zoom - Image-field based navigation with 2 navigators - Relative coordinate navigation - Save and recall specimen positions Hnedpsmn Rcqsfx Afzsl - Adjustable stage imaging window - Image field correction during rotation via computer-controlled eccentric rotation - Image field correction during tilt via computer-controlled eccentric tilt - Calculation of achievable tilt angle based on sample geometry - Automatic focus tracking during Z-axis movement of the sample - Intelligent limit switches for motorised axes - Specimen stage travel distances: - X = 125 mm - Y = 100 mm - Z = 5 to 80 mm (stepless) - T = -10°C to +90°C - R = 360° (continuous) - Secondary electron detector for high vacuum operation - Innovative super-conical objective lens guarantees highest image resolution, even at steep tilt angles - Guaranteed SE-image resolution: 3 nm at 30 kV and 15 nm at 1 kV - Simultaneous live-image display from multiple detectors - Powerful image measurement functions - Movie function for recording dynamic processes - Versatile specimen chamber with numerous upgrade options: free flanges, e.g. for EDX, WDX, EBSD, cathodoluminescence, etc. - Low-maintenance and wear-resistant, quiet pumping system consisting of a forepump, vibration-free high-performance diffusion pump, and electromagnetic valve control - Extensive fail-safes against operator error and external media failure - Ergonomic, height-adjustable system table SEM starter kit comprising 2 specimen holders, toolkit, and 6 replacement cathodes Additional Scanning Electron Microscope Equipment: - Turbomolecular pump instead of standard diffusion pump (using a turbomolecular pump eliminates the need for cooling water for the SEM) Further SEM equipment: - PC for SEM control, incl. TFT monitor ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX System EXTENDED - Bruker EDX software will be transferred to the new owner after purchase! - Nitrogen-free energy dispersive X-ray analysis system including: - SDD detector with 127 eV or better energy resolution - Detection of all elements from boron onwards - Vibration-free, maintenance-free, Peltier-cooled (nitrogen-free) - Pulse processor - TFT monitor - Spectrum measurement and element identification - Fully automatic, quantitative, standardless element analysis - Image acquisition - Ultra-fast qualitative line scan - Ultra-fast qualitative element mapping - Data management and archiving system - Report generation and results output - Data communication - Installation and training - HyperMap - Multipoint analysis - Bruker xFlash detector (SDD) with SVE III signal processing unit Scope of delivery: (see photos) Condition: used (Changes and errors in the technical data and information are reserved!)